; {* p+ h O, b# k1 n+ a3 j* l7 l% ?( T6 Q: ^ v# N& `
4、加速试验 7 [/ E& Q' ^. ?0 }+ g) \7 {( w# I& {$ {2 d H
5 O1 n, R% N. {# O% t; a1 H
. Z" q! Q% d9 K5、高加速试验(HALT)6 [1 ]% i3 N" Q
( C6 P) Z8 s$ g) K( P+ u ( D. q) }: T. J" H8 m e, h : f3 ~/ [' U/ {+ V3 Q高加速寿命试验(简称HALT试验)是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的定性试验方法,利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足。, @1 r, U6 M- K9 ?' B
, x3 Z5 o' v1 Z
5 w3 i+ F4 D* @ 0 D8 h0 S$ n3 l0 Q& O9 p' r# pHALT试验箱可提供-100℃~+200℃的温度区间,温变速率可达到70℃~100℃/min。同时,提供六轴向随机振动(振动强度0~75Grms,频率范围1Hz~1MHz。),在低频范围内传递较高的振动能量,激发大型产品潜在的缺陷。+ t" A/ p4 c3 C
- o. Q3 k5 W% L. P. `
( w7 L: U I4 L6 @3 J8 i: L: L ' u2 m( ^- R6 ]1 v+ ~( A- JHALT优势1:快速检测缺陷,消除故障机会。 1 E" a7 Z" s' v! z3 ] ! T4 b8 A5 u# I5 o- H: b ! O' X, t- ~1 E2 C$ K6 E9 M2 [0 W M3 e: h( m) R
HALT优势2:评估失效率和MTBF,验证标准。 5 g z) `/ v- A 3 d% V5 h7 m9 l 7 F8 v( `. y) Q& i" P/ j5 R
% p9 m( U( [. ~) ?% ~. P: r
' d( J* [/ j9 z