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标题: 制造IC的基础原料:晶圆切割液配方整理 [打印本页]

作者: fordies1    时间: 2021-3-1 13:07
标题: 制造IC的基础原料:晶圆切割液配方整理
晶圆是制造IC的基础原料。硅晶圆的加式过程往往需要基于纯度达到99.999%的纯硅材料,这些纯硅需要被制成硅晶棒,经过照相制版、研磨、抛光、切片等程序,将多晶硅融解拉出单晶硅晶棒,然后切割成一片一片的、薄薄的硅晶圆。% U- `; B- X. |" U* G& |' g: A) I. E
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基于硅晶圆可以加工制作成各种电路元件,生产有特定电性功能的集成电路产品。
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! j/ V7 h$ p3 r& m  z% a  I9 R晶圆划片是整个芯片制造工艺流程中的一道必不可少的工序。3 [) d, t$ u! |; c7 s8 z
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晶圆划片过程中,由于强机械力的作用,晶圆边沿容易出现微裂、崩边和应力集中点,晶圆表面也容易存在应力分布不均和损伤的情况,这些缺陷是造成晶圆制造中产生大量滑移线、外延层错、滑移位错、微缺陷等二次缺陷以及晶圆、芯片易破裂的重要因素。# m5 K; W' Z$ u

: g9 S0 C9 c+ O& ]1 Z线切割工艺中,克服线锯的晃动、提高其稳定性,对降低硅片表面损伤(尤其是是表面较粗糙的缺陷)具有重要作用,选择性能优良的线切割液是减小或避免这些问题的重要途径。5 V- |! a' y5 v4 o
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切割液具有一些特点:8 t: _3 I- i( R5 }! G, f; S: r- h

& k4 T' g/ J5 U5 M" n$ R( o它会对加工工艺指标影响比较大,主要是加工精度、效率和表面的粗糙程度。9 l. @/ c7 P: Y1 I& w
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它可减少硅晶圆切割设备发生锈蚀的问题。
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" u% a; o' z; V+ Z, x8 h; Z它有良好的低泡沫性能。
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- X% {% B) o  {9 y6 G由于切割液能降低晶圆表面操作和机械应力,它有利于晶圆加工后续工序的进行。- N; O% f/ [: _/ Q& l
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切割液有优异的润滑性能和导热性能,可以降低脆性崩裂和划伤,提高硅晶圆的成品率。
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. O$ e' }- \" t% U0 W. O6 o1 [它能减少表面碎屑和表面金属层残留。
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某公司开发的一款晶圆切割液,它的润滑性和切割效率高,减少了脆性崩裂、划痕、隐裂等问题,能提高硅晶圆的切割效率和成品率。
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5 F& M- |) V, `7 u工艺细节要求:* ]$ X4 l( [( Q2 V: ~+ h
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使用软水配制工作液;$ x& V+ h! _. j3 b1 b

5 W9 j0 h; n& i# L! _8 F+ z( K1 O2 S水稀释15~25倍使用;
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长时间使用的话,切割液的耗损量达到切割液总量的1/3~1/2时,要及时补加原液或适当浓度的新工作液;
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参考配方:; W* S' h1 F0 [8 z5 x$ H% Q+ C

: k1 v3 W2 ~  b$ @  [! G70公斤去离子水+20公斤聚醚(表面活性剂)+5公斤聚乙二醇(表面活性剂)+3公斤炔醇(润湿渗透剂)+0.2公斤封端聚醚(消泡剂)
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75公斤去离子水+15公斤脂肪醇聚氧乙烯醚(表面活性剂)+5公斤聚丙二醇(表面活性剂)+5公斤炔醇聚氧乙烯醚(润湿渗透剂)+0.2公斤封端聚醚(消泡剂)7 q+ K! H) E( }% d: s( N/ v

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作者: reasonant-j    时间: 2021-3-1 13:54
可减少硅晶圆切割设备发生锈蚀的问题




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