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标题: 关于PCIE system Si 仿真问题 [打印本页]
作者: davidyan    时间: 2020-11-30 14:56
标题: 关于PCIE system Si 仿真问题
1.点到点芯片提取的S参数是否可以用在模版中去验证.因为看起来模版都是基于链路的模块主板加背板加字卡。
' q3 K- S# A+ M5 {1 p2.验证结果差损偏小其他都符合要求，是否可以忽略差损问题。
. k5 M$ z( f; m # w; ]0 W9 G  ~3 l0 s; m% x
/ \, s2 K$ a; s" l* }
作者: modengxian111    时间: 2020-11-30 19:31
差值有多少
作者: davidyan    时间: 2020-12-1 09:13
modengxian111 发表于 2020-11-30 19:31:17
6 l/ ~. W( K; h) }2 ?* B% Y差值有多少
1 Y: o: n/ U) _' t1 n$ S

* V5 C+ u8 w/ t+ }: e8 w图上应该在两个阴影中间。现在却在上方阴影区域.; U7 p4 k% `* p4 ^4 A

. }( x7 m3 \' C% {
作者: dzkcool    时间: 2020-12-1 09:14
手工搭链路，做Mask比对



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