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标题: 器件结温有降额标准码？ [打印本页]
作者: Apollo_9    时间: 2020-5-12 22:40
标题: 器件结温有降额标准码？
器件结温有降额标准码？  按150°C来算还是乘以0.9 来算， 有没有 Derating Factor参考 还是不需要/  用热电偶实测单片机壳温已经到达90°了4 B' k4 b( O4 T0 k" a
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作者: NZSdsz    时间: 2020-5-13 09:31
有降额标准                 
作者: lilino    时间: 2020-5-13 09:36
这个应该是有的吧
作者: 重阳    时间: 2020-5-13 14:43
@Apollo_9, 问题看到了，从你问题下面的表格来看，应该对元器件降额规范GJB/Z 35-93标准、各企业标准、公式计算有所了解；
7 a, ^0 m5 T' B上述遇到的冲突，应该属于器件选型方面的，一起从源头梳理下：
7 q0 t1 O. W7 O1、产品应用场景：+ W9 B5 \* W1 G
     你所做的是什么产品，采用什么散热方式？小环境温度：TI的双路模拟开关为什么有81.2℃？ ST的MCU为什么94.1℃？* X0 `* O, ^; a
2、器件选型：
& ~' E1 R# `# O) M$ X% `5 V    这么高的小环境温度，是什么原因驱动选择150℃模拟开关和105℃ MCU的？& t$ Z9 G- e. f1 L+ ^+ V% z" V# Q
作者: Apollo_9    时间: 2020-5-13 20:11
重阳 发表于 2020-5-13 14:43
6 R2 T1 s- f) D) `@Apollo_9, 问题看到了，从你问题下面的表格来看，应该对元器件降额规范GJB/Z 35-93标准、各企业标准、公式 ...
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数据错了，那个是壳温，环温重新测试了一下，86°C 一样的，但是MCU壳温有那么高。我们的功率都是估算的，应该不准，有什么好的办法在PCBA里面测试MCU或者估算功率的方法吗？
作者: 重阳    时间: 2020-5-14 15:27
Apollo_9 发表于 2020-5-13 20:11
3 n* m1 L6 B  o$ V- ~数据错了，那个是壳温，环温重新测试了一下，86°C 一样的，但是MCU壳温有那么高。我们的功率都是估算的 ...
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半导体器件的功耗，规格书上的Pd不是有么，行业中半导体厂家有测试热阻的方法，没太明白你的需求；. W8 E% @$ v% s5 X' K; `+ @+ c

4 v0 ]1 a4 \1 w, y! u你这个是选型源头的问题，当实际测试值超出器件规格的时候，首先要审视你的选型是否合理，这也是提示让从源头审视的原因；超出器件规格，在实际工作中会出现意向不到的问题，即通常所说的可靠性问题，超出规格厂家是不承诺的；' N( A* y5 }! V/ \) U5 U

: D/ v' p! s" m" R2 P还有你测试的器件温度是在哪个工作状态？稳态，瞬态 还是 极限工作状态？降额的额度是不一样的，判据也不一样，需要明确。
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作者: Apollo_9    时间: 2020-5-14 21:26
重阳 发表于 2020-5-14 15:27
, F/ E, R& I6 ~# o. _3 A半导体器件的功耗，规格书上的Pd不是有么，行业中半导体厂家有测试热阻的方法，没太明白你的需求；
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你 ...
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工业级的IC温度上限一般都能到达85°，我们的产品在机房温度（常年50度左右）情况下是能长时间工作的，我们是想知道的是在突发事件下，比如机房停电或者空调坏了，产品能抗多久，有些产品标准上规定是一年多少小时，多少次，我们达到这个要求就行了。这也是客户最近反映的问题，所以先排除产品选型的问题。有些客户愿意花100W买空调，有些愿意花10W，MCU选型难道要考虑他的空调的可靠性？空调坏了，要MCU得扛得住？
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作者: Apollo_9    时间: 2020-5-17 22:34
重阳 发表于 2020-5-15 09:47
7 t2 i; J7 f: B: L, ?涉及到的问题较多，请给出您的公司邮箱、联系方式，邮件或电话交流下。
' X' ^2 I: O: W5 A. }# V2 {  o存在的问题简要概括如下，若类似 ...
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加下微信， Jimmy_927



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