封装大致经过了如下发展进程:一.TO 晶体管外形封装" @: r! f7 G6 }/ c; W1 p9 U$ i( A1 _, ^
结构方面:DIP封装(70年代)->SMT工艺(80年代 LCCC/PLCC/SOP/QFP)->BGA封装(90年代)->面向未来的工艺(CSP/MCM)
材料方面:金属、陶瓷->陶瓷、塑料->塑料;
引脚形状:长引线直插->短引线或无引线贴装->球状凸点;
装配方式:通孔插装->表面组装->直接安装7 j G; Q" ^* y
1.适合在PCB (印刷电路板)上穿孔焊接,操作方便。+ m- J' P* i7 X* e; A5 K用途:DIP是最普及的插装型封装,应用范围包括标准逻辑IC,存贮器LSI,微机电路等。Intel公司早期CPU,如8086、80286就采用这种封装形式,缓存(Cache )和早期的内存芯片也是这种封装形式。
2.比TO型封装易于对PCB布线。 ?4 N) Y# u4 ~) O$ P! J# m
3.芯片面积与封装面积之间的比值较大,故体积也较大。以采用40根I/O引脚塑料双列直插式封装(PDIP)的CPU为例,其芯片面积/封装面积=(3×3)/(15.24×50)=1:86,离1相差很远。(PS:衡量一个芯片封装技术先进与否的重要指标是芯片面积与封装面积之比,这个比值越接近1越好。如果封装尺寸远比芯片大,说明封装效率很低,占去了很多有效安装面积。)- ]: l& A, q' V- p+ |. t8 A
三.QFP 方型扁平式封装! e, a. h& D: \% ^PS.以下三~六使用的是SMT封装工艺(表面组装技术),欲知详情,请移步此处。
1.用SMT表面安装技术在PCB上安装布线。QFP的缺点是:当引脚中心距小于0.65mm时,引脚容易弯曲。为了防止引脚变形,现已出现了几种改进的QFP品种。如封装的四个角带有树指缓冲垫的BQFP(见右图);带树脂保护环覆盖引脚前端的GQFP;在封装本体里设置测试凸点、放在防止引脚变形的专用夹具里就可进行测试的TPQFP。
2.封装外形尺寸小,寄生参数减小,适合高频应用。以0.5mm焊区中心距、208根I/O引脚QFP封装的CPU为例,如果外形尺寸为28mm×28mm,芯片尺寸为10mm×10mm,则芯片面积/封装面积=(10×10)/(28×28)=1:7.8,由此可见QFP封装比DIP封装的尺寸大大减小。: k- g: p; f c) s) w
3.封装CPU操作方便、可靠性高。
1.组装面积小,引线强度高,不易变形。用途:现在大部分主板的BIOS都是采用的这种封装形式。
2..多根引线保证了良好的共面性,使焊点的一致性得以改善。
3.因J形引线向下弯曲,检修有些不便。
1.寄生参数小,噪声、延时特性明显改善。用途:用于高速,高频集成电路封装。主要用于军用电路。" d7 |5 I( s% l. f( A( \' I, f4 `
2.应力小,焊点易开裂。
1.插拔操作更方便,可靠性高。$ L! u" w' W! j, j. E! f# @7 @实例:Intel系列C PU中,80486和Pentium、Pentium Pro均采用这种封装形式。5 a* c2 M1 @4 W/ d$ ]( i, m/ y
2.可适应更高的频率。
其载体与PCB材料相同,故组装过程二者的热膨胀系数TCE(Thermal Coefficient Of Expansion)几乎相同,即热匹配性良好。Intel系列CPU中,Pentium II、I II、IV处理器均采用这种封装形式。& |- c( H) ]. l! b% [
组装成本低。 2 J5 h4 f( Q) X+ c$ k; F4 G% B3 i
共面性较好。 7 |) d$ ]- d# U# N+ p
易批量组装。
电性能良好。
优良的电性能和热特性。 ' f: j0 z1 S4 i( VIntel系列CPU中,Pentium I、II、Pentium Pro处理器均采用过这种封装形式。
密封性较好。
封装可靠性高。 - F# ?; l a8 h6 ^
共面性好。 : {3 n5 b/ L$ _
封装密度高。 $ m/ @" T) n$ t+ z- V& J. @% A
因以陶瓷作载体,对湿气不敏感。 ! w7 W; g% Z; K6 f
封装成本较高。
组装过程热匹配性能差,组装工艺要求较高。3 A2 o* n. l5 o& S" ~
封装轻、小。5.CDPBGA(Carity Do wn PBGA)基板:指封装中央有方型低陷的芯片区(又称空腔区)。
电性能良。
组装过程中热匹配性好。" F1 x. t" K- A0 @8 _- Z! U6 w
潮气对其性能有影响。, P/ o8 u, V/ Z# H. ]' g' ]
1.I/O引脚数虽然增多,但引脚之间的距离远大于QFP封装方式,提高了成品率。) w' |" e5 x, M w& e+ |九.CSP 芯片尺寸封装; Z9 ~7 {' B! `
2.虽然BGA的功耗增加,但由于采用的是可控塌陷芯片法焊接(C4),从而可以改善电热性能。
3.厚度比QFP减少l/2以上,重量减轻3/4以上。5 r, @1 }$ z v/ d1 t
4.寄生参数减小,信号传输延迟小,适应频率大大提高。
5.组装可用共面焊接,可靠性大大提高。* }7 l5 L& ~$ C7 E7 q( m) q$ e
6.BGA封装仍与QFP、PGA一样,占用基板面积过大。
1.满足了芯片I/O引脚不断增加的需要。1 S `7 _& \6 y) ^: lCSP封装适用于脚数少的IC ,如内存条和便携电子产品。未来则将大量应用在信息家电(IA)、数字电视(DTV)、电子书(E-Book)、无线网络WLAN/GigabitEthemet、ADSL/手机芯片、蓝芽(Bluetooth)等新兴产品中。
2.芯片面积与封装面积之间的比值很小。" a; K. i# M ?
3.极大地缩短延迟时间。9 ^' F) C, N# z4 M5 n2 M( a
1.封装延迟时间缩小,易于实现组件高速化。结语2 Q& H, p; j* D8 i( F; b3 I' ]- w
2.缩小整机/组件封装尺寸和重量。一般体积减小1/4,重量减轻1/3。) f. K8 l2 Y2 P6 l. ^" O
3.可靠性大大提高。$ Y3 S/ S+ i$ C2 L( o7 j# g0 O
芯片封装的发展是适应微组装技术FPT(Fine Pitch Technology)的发展而发展。朝轻、薄、小化,高I/O数,外形尺寸小,引线或焊球间距小的方向发展。随着技术的发展,性能将进一步提高,价格将会下降。这样电子组装的新时代将来临,整机性能将明显改善。
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