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标题: 进口元器件超温筛选后,可靠性问题 [打印本页]

作者: kajchild    时间: 2020-4-15 09:50
标题: 进口元器件超温筛选后,可靠性问题
我选用的一款Nor FLASH芯片 ,型号 pc28F00BP30EF,工业级,适应温度为-40~85摄氏度,而由于项目要求,筛选试验低温使用-45摄氏度进行实验,实验正常,情况筛选完成后元器件的可靠性是否能够得到保障?若筛选实验通过 ,后续不再超温使用,是否存在问题?
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作者: wohenk    时间: 2020-4-15 10:44
不能得到保障        




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