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标题: 怎样用最小的代价降低MOS的失效率? [打印本页]

作者: AceLiL    时间: 2020-3-26 15:09
标题: 怎样用最小的代价降低MOS的失效率?

【前言】
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  在高端MOS的栅极驱动电路中,自举电路因技术简单、成本低廉得到了广泛的应用。然而在实际应用中,MOS常莫名其妙的失效,有时还伴随着驱动IC的损坏。如何破?一个合适的电阻就可搞定问题。
- u0 o4 [- K/ n3 D/ G  h* L% e3 G! |  【问题分析】


7 o* X  S1 {0 y& f2 h3 O  上图为典型的半桥自举驱动电路,由于寄生电感的存在,在高端MOS关闭后,低端MOS的体二极管钳位之前,寄生电感通过低端二极管进行续流,导致VS端产生负压,且负压的大小与寄生电感与成正比关系。该负压会把驱动的电位拉到负电位,导致驱动电路异常,还可能让自举电容过充电导致驱动电路或者栅极损坏。由于IC的驱动端通常都有寄生二极管,当瞬间的大电流流过驱动口的二极管时,很可能引发寄生SCR闭锁效应,导致驱动电路彻底损坏。$ c1 g* u+ F( s( E  m, b
  【解决方法】


( D1 ^2 R4 [+ D- }2 I, h7 C" Q0 @  如上图所示,在自举驱动芯片VS端与Q1的源极之间增加一个电阻Rvs,该电阻不仅是自举限流电阻,同时还是导通电阻和关断电阻。由于占空比受自举电容影响,该电阻值一般不能取得较大,推荐值为3~10Ω较为适宜。电阻和自举电容的容值与其充电时间可以由以下公式得出:6 G, b) ]6 ?: j, @
  其中C是自举电容容值,D为最大占空比。
9 |( ~$ w2 }3 E3 D5 r% T  致远电子的PV系列光伏电源,内部的MOS驱动技术就帮助此款产品解决了很多高端MOS的疑难怪症,最终成就了产品的高可靠性。200~1200VDC超宽输入电压范围,长寿命、高效率、低纹波噪声、高可靠性等特点。


9 a& Q8 Q  M5 M* W# N% ?3 y  【其它注意事项】
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  对于减小高端MOS驱动的寄生振荡,除通过增加驱动端的电阻发挥作用外,在印制电路板的设计中,还可注意以下一些细节,将寄生振荡降到最低。如:自举二极管应紧靠自举电容,功率布线尽量短且走线圆滑,直插器件应紧贴PCB以减小寄生电感等。怎么样?赶快试试吧!


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作者: IC老和尚    时间: 2020-3-26 17:33
由于IC的驱动端通常都有寄生二极管,当瞬间的大电流流过驱动口的二极管时,很可能引发寄生SCR闭锁效应,导致驱动电路彻底损坏。




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