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标题: 请各位帮忙分析一个DC-DC电源芯片的失效现象，多谢了！ [打印本页]
作者: YNhhU    时间: 2020-3-19 13:43
标题: 请各位帮忙分析一个DC-DC电源芯片的失效现象，多谢了！
芯片简介：VIN=3V~6V的Buck型同步DC-DC芯片，高边管有boot电源，采用国内0.5um BCD工艺，使用5V低压mos/12V dmos器件& k( n0 d% V+ \& O5 O, @! l
失效条件：VIN=4V时，一切正常；VIN=5V时，反复上电、反复关断再开启会损坏芯片。3 `. z+ {( T- W# t" c

8 K+ Q0 i4 G! C: d; G. q7 l8 _) J3 X/ }9 n% D
失效芯片的表现：1）功能正常但空载电流变大到几十上百mA；2）功能正常但关断电流变大到几十mA；3）功能不正常，无输出；4）VIN对地短路。每颗损坏的芯片表现不一样，是前面1~4项的一条或两条。
' K6 p6 M: V7 v; K7 N; }6 N8 m
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其它，部分损坏芯片VIN ESD烧毁，但是ESD实验可以过4kV，Latch up测试也OK。EMMI实验可以看到VIN ESD器件漏电，其它部位不明显。
9 `5 w3 l! ~' z% z( ?0 M8 iSW开关信号上冲下冲比较大，是功率管驱动能力太强了吗？
* e+ m: ]8 n1 S8 ]& [! F8 L) r请各位有碰到过类似问题的大侠指点一下可能出问题的地方，或者测试分析手段。0 V% B! a- H. C1 ]5 g
" C* `  @1 d; F, W8 R+ C4 X0 W

! U, t; x! J) i3 R, q在此谢过了！
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作者: 一盆绿箩    时间: 2020-3-19 14:03

! \0 u1 s/ G3 A" l# w/ c; j3 f可以FIB将驱动管砍掉一半看看



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