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标题: 失效分析（三） [打印本页]

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作者: TheWorld    时间: 2020-3-9 15:05
标题: 失效分析（三）

O、芯片内部线路验证－FIB

P、综合分析与结论

l 综合分析中的逻辑思维能力l 结论的特点与正确使用

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  & ^) ]. E1 r0 R* T: I, G

Q、验证与改进建议

l 根本原因排查与验证l 改进建议及效果跟踪
# I1 {3 @4 S/ S9 E" {7 V9 F

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作者: IC老和尚    时间: 2020-3-9 16:26
根本原因排查与验证l 改进建议及效果跟踪,

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