标题: 失效分析（二） [打印本页] 作者: 冬1988 时间: 2020-3-9 15:04 标题: 失效分析（二） H、密封器件物理分析; t6 Z; }$ y( \3 [5 U
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I、开封制样$ [6 I* U# E2 Q% n
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J、芯片剥层2 y/ A) F0 P c0 @# v
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; `; `6 j0 q0 p/ u/ s% e, k) G0 @K、失效定位－SEM 9 l$ G. m, ]. Y% O1 p + S- [1 D, X/ o0 {7 B2 nl SEM的工作原理与设备特点4 g0 s/ S2 B2 ^& I
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