标题: 失效分析（一） [打印本页] 作者: 冬1988 时间: 2020-3-9 15:02 标题: 失效分析（一） 失效分析 4 \+ L6 W% }' D K6 i- z失效分析的总章与目录。- w7 z4 w3 D8 y: I
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失效分析基础 2 [' E |- p2 u! {. `1 |6 Rl 可靠性工作的目的，失效分析的理论基础、工作思路 / D& O! Y) l8 O' J% [: i0 O* e- v+ E2 W/ v7 ?
l 术语定义与解释：失效、缺陷、失效分析、失效模式、失效机理、应力…… & E S, X) d1 u4 U" y; A7 X' b9 y# Z( a6 l5 x& s- x& G
l 失效分析的问题来源、入手点、输出物、相关标准 1 n% `* B# l. Y9 A3 Z; O0 ?4 \& w0 E0 T0 z4 o$ I
失效分析技术方法3 D' \$ q1 J! Y, E# c
A、失效分析的原则 " E6 [# l8 X9 J- j& F2 ` # ` E7 A/ _# q6 I! u3 SB、失效分析程序 7 f) G0 K6 f$ }. ?/ U: v6 g2 V! T - L% Y( a5 x: f' e7 j# `9 Yl 完整的故障处理流程 ; T; _) e8 X1 O7 ~, a* Q Z4 Y2 }( g/ f
l 整机和板级故障分析技术程序& f1 e7 d. r9 l$ U7 o
! f3 Y7 d' B1 h$ w4 Z: U6 j1 Wl 元器件级失效分析技术程序（工作过程和具体的方法手段介绍） " y+ O, v* r' t3 A) B! p+ v) ~: \5 a: X( E4 ]* V L3 C; Y
C、失效信息收集的方法与具体工作内容0 Z' ^5 u4 `6 o, x1 z
8 C. b/ |3 L" u/ z) U, l
l 如何确定失效信息收集的关注点/ z8 B/ C' a4 o% D( X* ]
) E8 H. ?: [+ c9 J8 U( ]
l 样品信息需要包括的内容9 N9 ]$ F, v! D3 i9 ?9 h0 j5 q
" B% Z/ k0 u+ h6 i) C
l 失效现场外部信息的内容) i% U V( X- ^6 p& [1 d |
3 f g* @$ D+ o4 R. r/ r: O1 f8 ?
l 信息收集表格示例 3 U* L# l# k! y# y8 ]8 d! \ - t: `) m9 J1 {8 I0 _ j1 W1 fl 信息收集为后面技术分析工作贡献的示例 " b. u2 ^2 r, UD、外观检查 6 D; W( H# q5 R& F. j0 A2 Q9 a; v' u! j! i: e' `
l 外观检查应该关注的哪些方面 2 p% p2 W' O' n: D& C; P6 v t" ~; l2 x0 H+ z" o
l 外观检查发现问题示例# p; W G& V3 K7 \6 G* A
@. v. n3 ~/ b* l+ I& T# b
l 外观检查的仪器设备工具 - J4 c3 g" r* B- x% W) S3 P+ N& lE、电学测试6 `( C% N1 `0 M6 |% U% r) G* g) D
$ |8 |. M& w) C8 q3 P' O( c
l 如何用电测验证失效模式和预判失效机理 # I. Q' T; s, O. o5 s 5 N+ D9 y8 M, D2 ql 电测的具体方法 . q# C I7 F, i" Y7 d: ] j 9 D' }& y, p% ol 几种典型电测结果的机理解析3 F& D6 l. I; g% z6 v0 ^: {
# E& b/ O5 l$ I. z5 d% p/ T
l 电测时复现间歇性失效现象的示例 * Z0 i z5 x8 n! F+ [9 ]1 u w0 y7 h+ H) m. @
l 在电测中如何利用外部应力与失效机理的关联- G+ d& W3 L; L( t- y- a/ _: m) K
$ k" Y3 [. i9 B" }. W; c+ o+ w
l 电测的常用仪器设备 $ z& H4 W0 g, b0 }' I; K5 JF、X－RAY # N4 x y4 [) [& ^0 Z # U" E5 z5 O; Z8 o: e( r& f1 U2 ^l X-RAY的工作原理与设备技术指标 + G' y) a, W( q * Y- ]" C% Z# j, @; Ql 不同材料的不透明度比较0 O; n6 Q$ X1 z* i- O j9 `2 G
- Q+ l! a/ F) T9 S2 cl X-RAY的用途 ) ]: @' R* h& h1 V. T t, v H" S, L4 m7 p
l X-RAY在失效分析中的示例: e" p1 |3 Q/ \6 K0 r* n, H" @0 u& c
" s0 A) C/ P' @% g0 F Y1 s% L0 }4 V
l X-RAY的优缺点) k6 Z* h% ~, E8 J3 x% O
, K: L4 Y i& q& Bl X-RAY与C-SAM的比较 , v& h3 Q. [( i6 K3 L* }1 I/ {: A) \$ v5 p P
G、C-SAM- u' W* S" `, R. X* L- J3 ]% d9 I$ u0 [
6 q% T6 X6 t$ m' k6 _* N* V5 p
l C-SAM的工作原理与设备技术指标4 H1 I. f- c8 X# f& V B+ f: d
5 P* g+ u5 @0 B h6 {* @. ?
l C-SAM的特点与用途 9 ]7 v% M0 N, j( P4 t& K: O2 S ' b- a- L7 @5 {9 m6 gl C-SAM、X-RAY在失效分析中联合应证的使用示例/ a; M' M5 T9 W$ l$ c& K/ I% J
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l C-SAM的优缺点 ' b. } J0 E! C$ v3 z1 [ 3 r% q2 o* \9 U- \1 f6 v" K- z) S3 ~9 U作者: IC老和尚 时间: 2020-3-9 16:18
电测验证失效模式和预判失效机理很重要