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标题: 看看大师们对SBGA器件焊点缺陷原因分析及工艺改进的详细分析 [打印本页]

作者: mytomorrow    时间: 2020-3-2 14:52
标题: 看看大师们对SBGA器件焊点缺陷原因分析及工艺改进的详细分析
本帖最后由 mytomorrow 于 2020-3-2 14:54 编辑 8 {. j6 V1 d2 _

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SBGA器件焊点缺陷原因分析及工艺改进
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刘英,侯星珍,符云峰- Q- ~5 `, \- o$ K& o# r8 B
(中国电子科技集团公司  第二十九研究所,四川  成都  610036)  ?% h; O+ ?1 A% u; F

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摘要:一种SBGA封装的高速 多引脚互联器件被应用在多个重要产品上,但在检验过程中发现其故障率明显高于同类封装器件,严重影响生产计划和产品质量。经过产品装配全过程分析后,确认主要原因为回流焊接参数不合理,氮气环境的不良影响,焊膏量不满足要求和焊端物理损伤。介绍了针对解决相应原因开展的工艺改进工作,并通过检验手段和数据统计确认了工艺优化的有效性。
' o. p3 }+ f: p- |6 W/ }/ F关键词: SBGA; -次合格率;工艺改进1 J! L1 N4 E0 A; `( s7 o$ q

7 D9 Z, h1 G/ G) Y8 Y# r: |2 o% H" }随着电子设备向小型化和多功能化集成发展,高密度印制板组件和板板互联结构应运而生,多引脚板间连接器可实现高速信号传递,广泛应用于板卡对接的设备中,大量应用在机载领域、地面领域和舰载领域。
+ N! X/ D8 h$ V7 G( T; f7 I本文中的高速多引脚互联器件虽被厂家定义为超级球栅阵列( SBGA)封装,但其结构与传统的球栅阵列( BGA)封装存在一-定区别。传统的BGA封装为了强调I/O仍然是“ball” ,而本文中的SBGA的I/O的形态为非“ball"的锡铅焊片,两者结构对比如图1所示。
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作者: xixihahaheihei    时间: 2020-3-2 16:57
SBGA器件焊点缺陷原因分析及工艺改进




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