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标题: 关于EUT不接地静电测试问题 [打印本页]
作者: odayle    时间: 2019-4-2 11:33
标题: 关于EUT不接地静电测试问题

6 y: {3 y. V2 J请教大神，
4 W2 n  m3 M* Z, t& ]产品没有接地进行ESD测试，接触放电（COM口和USB口）  测试COM口时每打一枪后（共10枪），接地线在COM口接一下拿开；测试USB时（USB口很小）每打一枪后接地线在COM口接一下拿开，测试fail；测试USB时每打一枪后接地线在USB口接一下拿开，测试PASS；请问为何会出现这种情况，那产品直接接地打ESD和产品不接地（用接地线放电）测试结果会有很大差异性吗？
$ L, `# b6 u6 J" b& |' t非常感谢！
作者: wfc_02    时间: 2019-4-2 22:20
: U/ Q8 a  U- i+ T& U& P7 ~6 y' H* b8 g5 t
4 M6 Q0 m# Y, H& O# B% j% F/ n' z2 i
与楼主类似的问题并不少见，楼主最好在提供一些详细的信息，比如让端口地是怎么布置的等。: x% {& a) O7 k$ p
单凭楼主现在描述，愚见问题大概率可能是以下两个问题引起的：7 H, G0 l: C/ Z4 o
1.测试手法有问题
  H2 R, a! f9 z* g9 B' R对于非接地设备，很多测试人员都知道打完静电后要对设备上残留电荷进行泄放。但是，有一种常见错误做法：用一根连接到接地参考平面的导线泄放电荷。 这种做法在不少EMC测试机构的实验室也常能看到。 这做法可能会导致二次放电伤害。+ n& r( H( ]% D4 ^! h

! v& Y  y  F) z7 R2. 接口
* y' t- y7 f4 U  |7 W. ^COM 和USB 口的地的布置的差异导致泄放路径不同。5 h$ g$ K! h( K: a
作者: haiyun0921    时间: 2019-4-3 13:23
楼上正解
作者: Smart000123    时间: 2019-4-4 10:32
学习一下
作者: eastxidu    时间: 2019-6-4 10:31
学习一下



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