EDA365电子论坛网
标题:
Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
[打印本页]
作者:
Zedd
时间:
2018-10-15 08:43
标题:
Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
6 J) Z8 _, y0 L9 g/ K
在高速串行数据技术的推动下,性能指标日新月异
/ t( d9 b' D5 o/ \( m
TDR高速串行互连测试和验证
" S3 F0 L) T9 b" n7 u: b
– TDR的原理和应用
# b. z! x- b# H+ M$ r# _
– TDR在信号完整性SI(Signal Integrity)中的应用
( D+ ]- Q; q) x4 x# {: H2 `
泰克公司TDR测试解决方案
+ V) ?% F, E4 ]7 h) L" A
泰克串行数据链路测试解决方案
( o7 Y9 [) G% N# f2 Z: s
阻抗和信号完整性问题
计算机、通信系统、视频系统和网络系统等领域的数字系统开发人员正面临着越来越快的时钟频率和数据速率,随之,信号完整性变得越来越重要。在当前的高工作速率下,影响信号上升时间、脉宽、时序、抖动或噪声内容的任何事物都会影响整个系统的性能和可靠性。为保证信号完整性,必须了解和控制信号经过的传输环境的阻抗。阻抗不匹配和不连续会导致反射,增加系统噪声和抖动,在整体上降低信号的质量。
* \% E4 ?4 X1 b7 ?& b
2 D5 ^) g3 K, ~( ^; ]
阻抗控制是当前许多数字系统、元器件规范的一部分,如USB2.0,Firewire(IEEE 1394),PCI Express,Infiniband,Serial ATA,XAUI等规范。业内已经普遍使用仿真工具设计高速电路,仿真加快了设计周期,最大限度地减少了错误数量。但是仿真之后,必须进行工程验证来检验仿真设计,这其中就包括阻抗测量。
% i6 D8 m- A( u' Y) C# X
5 g0 N+ F. p1 x( j% q, j
" B% Q5 I$ l, z$ A
作者:
leleeda
时间:
2018-10-15 23:14
回复看看
欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/)
Powered by Discuz! X3.2