EDA365电子论坛网

标题: 铜、金键合线的差异. [打印本页]

作者: yuju    时间: 2016-1-8 16:17
标题: 铜、金键合线的差异.
本帖最后由 yuju 于 2016-1-8 16:43 编辑
, e# r, p/ p1 C0 h1 d
' a, a0 M+ k( v现今主流的键合线有铜、银、金、铝等合金线。
, I/ v3 d& J3 @; j铝线多用在Pad间隙大,成本低的产品中;) ^" ?7 P- o, {- I, O
高密度键合用的比较早有金线,如今受到成本压力,银合金,铜合金的键合线也已产业化了。: T- {  p' Z( _% q* a8 V
在此对使用比较多的金、铜线做一个对比,供在方案选型中使用.6 k- V, b* Y+ V2 @8 ?: T1 d  `
a. 成本:铜线一般只有金线的1/3左右;
) `3 D: d9 n' C" |" e9 a8 O
b.电性能:铜电导率约0.62μΩ/cm),金电导率约0.42(μΩ/cm);+ f$ {7 g1 v! A& Q
c.热性能:铜导热率约400w/mk,金导热率约300w/mk;
# _* j% O' E( M0 e# ?d.机械性能:铜刚度高于金线;
: K, g) @/ G4 X. V0 Ee.层间化合物:金线与芯片pad之间容易产生Au2Al或AuAl2化合物,也容易产生裂纹;而铜与Al之间的扩散则慢很多;1 M+ d  P- S; E( H/ {# J
* R+ l  S! J, z' I- y
铜线具有较多的优势,为什么铜线在近期才开始普及.9 q' B' o/ w4 _4 g
主要原因:8 U) }  u8 ?4 L; }0 \( X. U& R  L+ S
1.铜线容易氧化,在键合时需要额外的环境来保护键合时铜线不被氧化,增强稳定性,目前一般使用氢气还原方法.由此增加设备的改造,及增加危险性.5 F2 T" O6 e2 G# H
2.铜线比金线的硬度要高,在键合时需要更大力度及超声强度去压合,容易在芯片pad的裂损或暗伤,需要修改芯片pad的结构,同时也可以增加pad中的铜成分改善.
8 _; `& |# C* T9 H# }
0 u8 ]# |' |" |" c  {: x" g( c8 t3 m% Q2 \, u5 ?

Burn-out.jpg (31.93 KB, 下载次数: 4)

Burn-out.jpg

对比图.jpg (23.56 KB, 下载次数: 5)

对比图.jpg

作者: womi1989    时间: 2016-4-25 22:08
铜线居多吧~3 C4 ~, m& m! F% _: h$ g) G; O% E

作者: 小蒙art黑豆    时间: 2016-8-1 22:52
然后呢然后呢
作者: denny_9    时间: 2017-3-23 14:59
未来铜线应该是主流,基于现在工艺设备还有很多使用金线的,目前金线还是主流。
作者: chenshubo    时间: 2017-3-29 17:05
学习了,
作者: josh9001    时间: 2017-4-14 00:10
thank your sharing.
作者: gochip    时间: 2019-5-9 22:02
xiexie
作者: Dc2024022229a    时间: 2024-5-9 15:01
存储类的IC应该还是金线居多吧




欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) Powered by Discuz! X3.2