EDA365电子论坛网

标题: 如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手 [打印本页]

作者: pjh02032121    时间: 2015-2-15 16:46
标题: 如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手
本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-16 11:45 编辑
0 y3 V% M. ^$ p" c  a" W+ }4 Y: E! C- ~* x( |3 G" ?
下图是一块1994年的pcb,现在看来是很简单了,但是20多年前却是绝对的高大上。
) d) J/ M8 Z0 o2 p它是一个ECU(engin contol unit)模块,是Motorola(摩托罗拉)给Chrysler(克莱斯勒)专门定做的发动机引擎控制单元,地地道道的发动机心脏。
1 i! B5 u" Z. e( \(那个时代的巨头们的风采,啧啧...)
3 Z2 j( [3 G0 Z% x
* e2 _4 H3 N1 C& o$ T. z% e汽车电子对可靠性的要求,基本和军工是一个等级,所以对EMC的要求也是相当的高。
5 f% S$ h% D- m6 ]) G$ G- o 3 ]8 c( m/ B% I: u- f0 w  _
% d6 n0 Z$ a4 ^- e$ N9 L
图中红圈中是PCB上贴装的一个mcm芯片封装(QFP的,BGA技术还没商用),内部封了3个裸芯,三个裸芯具体的功能就不讲了。
% b- j# W) O8 J为什么要把三个芯片做在一起呢?(那时多芯片封装还极少商用,主要是成本高,技术不成熟)7 r- ^( Y' d2 v7 Z! P5 v
PCB上有大把空间,三个芯片单独封装完全可以放的下。/ U7 `/ Q; b7 L) C
但是由于单独封装,芯片之间的互联路径太长,造成EMI辐射。问题解决不了,不得不尝试新技术mcm。: f$ w9 A# a: Q4 }* _, P; V
mcm将三个裸芯放在一个封装里,互联路径短了,信号辐射就降下来了。1 l$ {: s: W* j$ j0 X, K, l6 ^

0 x+ x7 l$ r6 R: j2 _- M6 p下两图是他们在采用mcm技术前后的emc测试对比。* V8 a* m6 N, u  {; ^  Y/ y

* B' @* Z4 i9 C
! ?$ N% V1 r3 J9 V0 O$ @所以封装的小型化,高集成度不失为解决EMI问题的一个好方法。
* s/ h5 B" N9 D0 s. H" |  \" Q未完待续...
, {  _+ F( [( D* c2 Z' S7 L0 P
1 w: R2 R; m7 |- p" Y继续/ w) n) T8 b3 I1 }
芯片封装里的电磁辐射来自哪里,看下图是贴在pcb上的封装好的芯片,我们常用的芯片基本都是这种塑封封装。
1 K$ k! u" V0 N5 p: t9 e从外观我们看不出什么来,芯片被塑封料完全覆盖。
0 I; ?* s; r) J) g) D; {
% e& M* A! e" F" F9 Y! l% f( k! n& D% d5 B
继续看下图封装内部的图片,可以看到封装内部的互联金丝、基板走线、以及芯片上的布线等所有的互联结构。- {* ]* o% K7 Z" h" _( I0 [: l' _5 h
塑封料只能对封装内部起到物理保护和化学保护,风吹雨打没问题。但塑封料对电磁辐射完去没有任何招架能力,所有的电路都是完全暴露在电磁环境下的。(可以想象一下,我们的pcb所有的封装塑封都去除掉后的样子,那是一大堆的光屁股裸奔芯片
, [; x) @+ {; P' k& Y+ O封装内部的辐射直接到空间,空间的辐射直接到封装内,尤其高频的芯片,更易产生EMI问题。
2 s0 |- l& n3 s5 J
! Z8 r" q1 [6 Y8 e8 g$ Z
作者: 奋斗者    时间: 2015-2-16 10:11
顶礼膜拜。。。。。
作者: 古莘    时间: 2015-2-16 10:43
20年前绝对是顶尖技术!
作者: dzkcool    时间: 2015-2-16 13:31
第一次看到芯片内部实物图
作者: shangwu    时间: 2015-2-16 13:58
20年前啊,想都不敢想,老外真是先进
作者: willyeing    时间: 2015-2-16 15:31
见识了,版主
作者: pjh02032121    时间: 2015-2-23 13:22
本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-23 13:37 编辑 ! j2 \# K9 o* u: G: F; D
, x+ Q! E/ S# V" G
继续
7 _% b; e- k6 C) }小型化只是减小了EMI,并不能完全完全消除,所以sip封装有时候需要进一步的做EMI工作,终极的隔离屏蔽措施。
& I1 [; F0 G6 _( ]  h下图分别是屏蔽盖、供形屏蔽、金属封装的。
  O' t( _4 J$ a# a. H 5 v* _' Y* h& {5 ]5 r4 L
屏蔽盖,有效的解决EMI问题,无论在封装级还是在系统级都是常用的,也是成本最低的措施。
1 |2 o$ V% j5 C. O- v0 v2 l- P7 Z
4 k8 v8 O& q3 {: \! Y ) T0 U1 W$ x) S
共形屏蔽,在塑封的表面溅射一层金属,并与IC载板的地层连接在一起,这样所有的元器件都被包裹在屏蔽层内,与外界电磁环境完全隔离。
6 C+ L+ P( `9 @4 j7 e ! I+ T4 p' q9 \8 C

0 r3 J& \2 n4 K" F/ [- x% }金属屏蔽,用金属壳体将芯片等完全密封起来,屏蔽效果最佳,成本也高。# @% V5 r: X3 w, M
# B9 L7 g0 H' j* r1 X8 B3 t: w
最近几年最IC载板内埋器件的厂家也越来越多,这也是在封装级解决EMI的一个独到方案。, g/ w8 z, a2 N, ~/ e- E2 ^5 H
详情参阅:https://www.eda365.com/thread-105112-1-1.html# {. E7 i' V/ o

* m" b8 e9 u4 f* a, n& n
+ |' T0 {+ R% ~  ~对sip来说,采用屏蔽盖和共形屏蔽层,将封装内部电路与外界电磁环境完全隔离,对去除EMI效果相当好。
+ B& [0 s) U5 x- Q9 D5 P7 s但由于屏蔽层距离芯片太近,处理不当却会适得其反,引起封装内部电路的相互干扰。7 k' V/ x8 q+ M5 A8 @" g
如下图分别是共形屏蔽和屏蔽盖挖空处理,即将敏感部分或干扰源部分的屏蔽层挖空(与地平面分割原理类似),防止引起封装内部干扰。2 G1 z) ]. e# H+ i: x  f& L
   & g0 s$ _/ Y/ _, z, g0 C

4 V7 j$ @% g1 u/ T- u$ r6 X8 t2 D' `& F4 v, T$ Y) h6 n

作者: Julia_E365    时间: 2015-3-10 19:56
受教了
作者: jj9981    时间: 2015-3-11 09:29
以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?
作者: bingshuihuo    时间: 2015-3-11 10:17
20年前绝对是顶尖技术!以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?
作者: 沙漠风铃    时间: 2015-3-15 09:06
可望而不可即的,都没接触过这方面
作者: f__liu    时间: 2015-3-15 11:13
厉害
0 V5 w& T# H7 Q- F1 L$ R
作者: Xuxingfu    时间: 2015-3-16 09:55
很好很强大的技术啊
作者: chenqitan    时间: 2016-1-11 11:39
受教了
作者: completely    时间: 2016-2-22 16:49
太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金属层隔离呢?这种方式能够实现所说的“能更精细地组装电路板,一旦芯片之间的安装空间减小,多出来的空间就能用来安装更大容量的电池”吗?还是采用的内埋的方式?求大神不吝赐教!
作者: pjh02032121    时间: 2016-2-22 20:06
completely 发表于 2016-2-22 16:496 K, ~& I! w* T# M) h" P
太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金 ...
. v: {* I2 U( H( Q# a( ~7 W6 Y
内埋成本太高了,iphone7主要还是采用溅射金属--共形屏蔽。
% c; P8 M' t) L; W; \  X. [4 W( ]




欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) Powered by Discuz! X3.2