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器件选型的思考

2025-3-18 14:24| 查看: 156| 评论: 0

摘要: a、易产生应用可靠性问题的器件 对外界应力敏感的器件 CMOS电路:对静电、闩锁、浪涌敏感 小信号放大器:对过电压、噪声、干扰敏感 塑料封装器件:对湿气、热冲击、温度循环敏感 工作应力接近电路最大应力的器 ...
a、易产生应用可靠性问题的器件
对外界应力敏感的器件
CMOS电路:对静电、闩锁、浪涌敏感
小信号放大器:对过电压、噪声、干扰敏感
塑料封装器件:对湿气、热冲击、温度循环敏感

工作应力接近电路最大应力的器件
功率器件:功率接近极限值+ [* x$ A3 z: L. m  M& C4 V) Y
高压器件:电压接近极限值5 X; G9 w$ n( x
电源电路:电压和电流接近极限值 (电源)
高频器件:频率接近极限值(射频与高速数字). ~2 I! \, c$ n7 m! ^
超大规模芯片:功耗接近极限值(特别是大功率的CPU、FPGADSP等)


频率与功率都大的器件
时钟输出电路:在整个电路中频率最高,且要驱动几乎所有数字电路模块 : c% K9 [! C* w) E- L
总线控制与驱动电路:驱动能力强,频率高8 R( s; ?; g; v2 f/ K
无线收发电路中的发射机:功率和频率接近极限值


b、选用元器件要考虑的十大要素" {2 d* s! F4 }* ~' A6 e/ U9 t
1、电特性:元器件除了满足装备功能要求之外,要能经受最大施加的电应力
2. 工作温度范围:元器件的额定工作温度范围应等于或宽于所要经受的工作温度范围 5 t& z, R! P9 M
3. 工艺质量与可制造性:元器件工艺成熟且稳定可控,成品率应高于规定值,封装应能与设备组装工艺条件相容
4. 稳定性:在温度、湿度、频率、老化等变化的情况下,参数变化在允许的范围内 5 j0 g$ @1 o3 ^1 R% Z  j0 _# e/ |* r
5. 寿命:工作寿命或贮存寿命应不短于使用它们的设备的预计寿命
6. 环境适应性:应能良好地工作于各种使用环境,特别是如潮热、盐雾、沙尘、酸雨、霉菌、辐射、高海拔等特殊环境 ! A, {& [+ N1 Q4 P8 N0 r: l" @
7. 失效模式:对元器件的典型失效模式和失效机理应有充分了解! |3 N% D; m! U3 ?7 u& ]: f8 t& L
8. 可维修性:应考虑安装、拆卸、更换是否方便以及所需要的工具和熟练等级
9. 可用性:供货商多于1个,供货周期满足设备制造计划进度,能保证元器件失 效时的及时更换要求等 ' k0 P0 X. i7 d
10. 成本:在能同时满足所要求的性能、寿命和环境制约条件下,考虑采用性价比高的元器件
4 g1 o% z0 ]- A1 q0 K; n5 [5 m7 t# O

c、失效模式及其分布8 p7 t- ]8 w9 D# `$ ^
失效模式:元器件的失效形式,即是怎么样失效的?失效机理:元器件的失效原因,即是为什么失效的?8 d7 d) t( t$ E# V3 V

元器件的使用者即使不能了解失效机理,也应该了解失效模式) X* D' I# }0 V% ?! r
失效模式分布:如果元器件有多种失效模式,则各种失效模式发生的概率是进行失效分析的前提。



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d、高可靠元器件的特征
制造商认证:生产厂商通过了权威部门的合格认证
生产线认证:产品只能在认证合格的专用生产线上生产% ^' K5 c1 V" j" ~$ u0 P0 K
可靠性检验:产品进行并通过了一系列的性能和可靠性试验,100%筛选和质量一致性检验
工艺控制水平: 产品的生产过程得到了严格的控制,成品率高
标准化程度:产品的生产和检验符合国际、国家或行业通用规范及详细规范要求
) `8 o8 L' P" N& ?: n4 d

$ _9 R! A( Y' o
e、品种型号的优先选用规则7 m  @' \4 U3 q* W
优先选用标准的、通用的、系列化的元器件,慎重选用新品种和非标准器件,最大限度地压缩元器件的品种规格和承制单位的数量
优先选用列入元器件优选目录
优先选用器件制造技术成熟的产品,选用能长期、连续、稳定、大批量供货且成品率高的定点供货单位
优先选用能提供完善的工艺控制数据、可靠性应用指南或使用规范的厂家产品
在质量等级相当的前提下,优先选用集成度高的器件,少选用分立器件


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