主要分三大类:芯片功能测试、性能测试、可靠性测试,芯片产品要上市三大测试缺一不可。 ' R' z3 x9 [) F! h9 @ 性能测试,由于芯片在生产制造过程中,有无数可能的引入缺陷的步骤,即使是同一批晶圆和封装成品,芯片也各有好坏,所以需要进行筛选,人话说就是鸡蛋里挑石头,把“石头”芯片丢掉。" w- i& F, O/ Z1 C9 i4 Z 1 w. W' _) v1 g + `; L3 ^9 h+ D; f) h3 t- d 可靠性测试,芯片通过了功能与性能测试,得到了好的芯片,但是芯片会不会被冬天里最讨厌的静电弄坏,在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作,以及芯片能用一个月、一年还是十年等等,这些都要通过可靠性测试进行评估。 |
关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )
GMT+8, 2025-8-12 13:01 , Processed in 0.125000 second(s), 28 queries , Gzip On.
地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050